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介電常數(shù)測(cè)量?jī)x電容率測(cè)試儀之比。對(duì)于電抗元件（電感或電容）來說，即在測(cè)試頻率上呈現(xiàn)的電抗與電阻之比。它以89C51單片計(jì)算機(jī)作為控制核心，實(shí)現(xiàn)對(duì)各種功能的控制。壓控信號(hào)源為Q值測(cè)量提供了一個(gè)優(yōu)質(zhì)的高頻信號(hào)，頻率從25kHz-50MHz，共分為七個(gè)波段。信號(hào)源的頻率受頻率調(diào)諧和數(shù)字鎖定單元的控制。信號(hào)源輸出一路送到程控衰減器和自動(dòng)穩(wěn)幅控制單元，該單元根據(jù)CPU的指令對(duì)信號(hào)衰減后送回信號(hào)激勵(lì)單元，同時(shí)

abc型介電常數(shù)/介質(zhì)損耗儀儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

北廣介質(zhì)損耗測(cè)試儀廠家本儀器適用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流電，使用前要檢查市電電壓 是否合適，采用穩(wěn)壓電源，以保證測(cè)試條件的穩(wěn)定。

廣東介電常數(shù)測(cè)試儀介質(zhì)損耗是用于衡量絕緣體儲(chǔ)存電能的性能. 它是兩塊金屬板之間以絕緣材料為介質(zhì)時(shí)的電容量與同樣的兩塊板之間以空氣為介質(zhì)或真空時(shí)的電容量之比。

全自動(dòng)高壓數(shù)字電橋介電常數(shù)測(cè)定儀是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定

介質(zhì)損耗角正切測(cè)試儀主要特點(diǎn)： 空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測(cè)。 日本AET 公司針對(duì)CCL/印刷電路板設(shè)計(jì)空洞共振腔測(cè)試裝置 , 只需裁成小長(zhǎng)條狀即

介電常數(shù)介質(zhì)損耗角正切測(cè)試儀空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測(cè)。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測(cè)量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品（ 小于 10 mil） 量測(cè)值偏低,。

專業(yè)生產(chǎn)介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀專業(yè)空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測(cè)。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測(cè)量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品（ 小于 10 mil） 量測(cè)值偏低,。

專業(yè)生產(chǎn)介電常數(shù)測(cè)定儀全自動(dòng)抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種新穎的測(cè)量介質(zhì)損耗角正切值（tgδ）和電容值（Cx）的智能化儀 介質(zhì)損耗測(cè)試儀圖片